Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology

Dawid Kucharski, Adam Gąska,Tomasz Kowaluk, Krzysztof Stępień, Marta Rępalska, Bartosz Gapiński, Michal Wieczorowski, Michal Nawotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski, Jan Tomasik, Adam Wójtowicz

2025 Sensors. - T. 25, nr 24, Art. no 7471

https://www.mdpi.com/1424-8220/25/24/7471/pdf